更新時(shí)間:2024-09-27
原裝美國(guó)Sinton BLS-I檢測(cè)儀CT-400測(cè)量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測(cè)量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測(cè)量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測(cè)量模式。該設(shè)備可探測(cè)3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實(shí)現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測(cè)量,并能通過軟件端光強(qiáng)偏置實(shí)現(xiàn)單晶缺陷密度計(jì)算
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,航天 |
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原裝美國(guó)Sinton BLS-I檢測(cè)儀
CT-400測(cè)量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測(cè)量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.
是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測(cè)量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測(cè)量模式。該設(shè)備可探測(cè)3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實(shí)現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測(cè)量,并能通過軟件端光強(qiáng)偏置實(shí)現(xiàn)單晶缺陷密度計(jì)算。
BLS-I/BCT-400產(chǎn)品規(guī)格
壽命值測(cè)量范圍:100 ns至> 10 ms
電阻率測(cè)量范圍:0.5-300 Ohm-cm
測(cè)量(分析)模式
環(huán)境工作溫度:20°C-25°C
電源:BLS-I/BCT-400: 40 W
計(jì)算機(jī)與顯示器:200w
光源:60w
尺寸(無(wú)手柄)
BLS-I: 7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
BCT-400: 6.1 cm W x 15.0 cm D x 12.7 cm H
通用電壓:100-240 VAC 50/60 Hz
BLS-I測(cè)量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊 體形無(wú)嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
BLS-I測(cè)量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊 體形無(wú)嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
原裝美國(guó)Sinton BLS-I檢測(cè)儀
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